Pat
J-GLOBAL ID:200903072905179205
画像処理装置及び超音波診断装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
新居 広守
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003064802
Publication number (International publication number):2003334194
Application date: Mar. 11, 2003
Publication date: Nov. 25, 2003
Summary:
【要約】【課題】 断層画像等における局所的な欠損や不明瞭さに対応した対象物の輪郭抽出を可能とする画像処理装置及び超音波診断装置を提供する。【解決手段】 領域分割部103は、超音波断層画像を初期輪郭に基づいて小領域に分割する。評価値算出部104は、例えば、それぞれの小領域内における輝度値に関する情報(コントラスト分布など)並びに位置に関する情報(基準点からの距離等)、形状に関する情報(エッジの有無等)などから評価値を算出する。領域選択部106は、算出した評価値に応じて小領域を選択する。領域別処理部105は、選択された小領域に応じた画像処理を施す。画像再構成部107は、画像処理が施された小領域を用いて断層画像を再構成する。
Claim (excerpt):
画像データを取得する画像取得手段と、前記取得された画像データによって表わされる画像を複数の小領域に分割する領域分割手段と、一又は複数の前記小領域を選択する領域選択手段と、前記選択された小領域毎に画像処理を施す領域別処理手段とを備えることを特徴とする画像処理装置。
IPC (4):
A61B 8/00
, G06T 1/00 290
, G06T 7/60 150
, G06T 7/60 250
FI (4):
A61B 8/00
, G06T 1/00 290 D
, G06T 7/60 150 C
, G06T 7/60 250 Z
F-Term (34):
4C601BB02
, 4C601EE09
, 4C601JC06
, 4C601JC07
, 4C601JC08
, 4C601JC09
, 4C601JC10
, 4C601JC12
, 4C601JC20
, 4C601KK25
, 4C601LL23
, 4C601LL38
, 5B057AA07
, 5B057BA05
, 5B057CA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CE02
, 5B057CE09
, 5B057CE11
, 5B057DC06
, 5B057DC16
, 5L096AA06
, 5L096BA06
, 5L096BA13
, 5L096EA35
, 5L096EA43
, 5L096FA06
, 5L096FA14
, 5L096FA60
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
-
超音波装置、超音波信号変換方法、およびプログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-010362
Applicant:松下電器産業株式会社
-
超音波画像診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-337244
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
超音波診断装置及び画像処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-023819
Applicant:松下電器産業株式会社
Return to Previous Page