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J-GLOBAL ID：200903072998280822
温度分布測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991152983
Publication number (International publication number)：1993001954
Application date： Jun. 25, 1991
Publication date： Jan. 08, 1993
Summary：
【要約】赤外線アレイセンサの各センサエレメントの出力値の最大値をピークホールド回路により計測することを特徴とした温度分布測定装置【目的】 1次元もしくは2次元の温度分布を簡便に測定できる装置を提供する。【構成】 赤外線を検知するアレイセンサと、該センサ部に入射する赤外線を断続的に遮断するチョッピング手段と信号処理用電気回路にピークホールド回路を用いることを特徴とする。
Claim (excerpt)：
赤外線を検知する複数個の受光部をアレイ状に設けた赤外線アレイセンサと、前記センサ部に入射する赤外線を断続的に遮断するチョッピング手段を備え、各チョッピング毎に前記各検出部の最大値をピークホールド回路により計測することを特徴とする温度分布測定装置
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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