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J-GLOBAL ID：200903073048417925

粒子分析装置及び粒子分析方法

Inventor： 山崎 功夫 ,  大木 博 ,  松本 政悦 ,  三宅 亮 ,  矢辺 良平 ,  堀内 秀之 ,  桜庭 伸一
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 高田 幸彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992300802
Publication number (International publication number)：1993296915
Application date： Nov. 11, 1992
Publication date： Nov. 12, 1993
Summary：

【要約】【目的】尿中の粒子の画像と濃度を分析する装置で、短時間に多くの試料の分析を可能にする。【構成】撮像領域と粒子検出領域を持つフローセル1に試料を平坦なシースフローを形成して流す。センサ16で粒子の通過を検出してパルス光源21を発光させ、粒子の静止画像を撮像し、画像処理器32で粒子の種類と数を分析する。濃度補正器39で撮像粒子数を補正して粒子の濃度を得る。【効果】試料を高速でフローセルに流して分析するため短時間に多くの試料を分析できる。

Claim (excerpt)：

フローセルと、前処理器で処理された粒子が懸濁した試料液を前記フロ-セルに供給する液供給器と、対物レンズとCCD撮像器とを有しフローセルの撮像領域の画像を繰り返し撮像する撮像光学系と、該撮像光学系によりフローセルの撮像領域で撮像した画像中の粒子を形態的に分類する画像処理器と、粒子検出器の出力する検出信号を入力して前記パルス光源を発光させるパルス光源制御器と撮像粒子数を補正する濃度補正器とを備え、前記粒子検出器と画像処理器との出力に基づいて粒子の形態的な分類と濃度を前記濃度補正器で分析し、その結果を出力器から出力することを特徴とする粒子分析装置。

IPC (3)：

G01N 15/14 ,  G01N 33/48 ,  G01N 33/49

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開昭63-094156
  
• 特開平2-296131
  
• 特開平3-105235
  
• 特開平4-072544
  
• 特開平4-072545