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J-GLOBAL ID：200903073132555411

回路試験方法及び回路試験装置並びにそれを実現するためのプログラムが記憶された記録媒体

Inventor： 村上 拡司
Applicant, Patent owner： ミツミ電機株式会社
Agent (1)： 伊東 忠彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998173324
Publication number (International publication number)：2000009802
Application date： Jun. 19, 1998
Publication date： Jan. 14, 2000
Summary：

【要約】【課題】 テスタから供給される試験情報に応じて複数の試験装置で試験を実行する場合の回路試験方法及び回路試験装置並びにそれを実現するためのプログラムが記憶された記録媒体に関し、テストの準備を容易に行える回路試験方法及び回路試験装置並びにそれを実現するためのプログラムが記憶された記録媒体を提供することを目的とする。【解決手段】 系、テストプログラム名、ラインID、担当者名、デバイス名、ロット番号、カード番号などのテストの管理、実行に必要なテスト情報をユーティリティステーション110の所定のメニュー画面から入力し、メニュー画面から試験の実行を指示することにより管理された系、テストプログラム名、ラインID、担当者名、デバイス名、ロット番号、カード番号などのテスト情報をICテスタ2を介してテストステーション3-1、3-2に供給して、テストステーション3-1、3-2に直接設定し、テストを実行する。

Claim (excerpt)：

回路に試験信号を供給し、該回路の出力信号を測定して、該出力信号に応じて該回路を評価する回路試験方法において、試験を管理する試験情報を一括して管理する試験情報入力手順と、試験実行命令が入力されたとき、前記試験情報入力手順で入力された前記試験情報に応じて前記回路を試験する試験手順とを有することを特徴とする回路試験方法。

IPC (2)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/26

FI (2)：

G01R 31/28 H ,  G01R 31/26 G

F-Term (5)：

2G003AA07 ,  2G003AH01 ,  2G032AA00 ,  2G032AE10 ,  2G032AE12