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J-GLOBAL ID：200903073225892701
データ型対応の自動テスト方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993198154
Publication number (International publication number)：1995056768
Application date： Aug. 10, 1993
Publication date： Mar. 03, 1995
Summary：
【要約】【目的】 本発明は情報処理装置を用いたプログラム開発支援システムに関し、特にプログラムのテストのためのテストデータの作成、及び作業者との対話を有するプログラムを作業者の介在なくテストできる自動テスト方法を提供することにある。【構成】 データ型とテストデータとの対応を表す標準テストデータを予め記憶し、テストするプログラムの引数に関する情報を取得し(104)、その引数に対する適切なテストデータを標準テストデータに基づいて作成し(106)、作成したテストデータのテストレベルがあるレベル以上のものだけを選別し(107)、得られたテストデータを引数に対応させて出力することで達成される。
Claim (excerpt)：
計算機及び対話端末を有する情報処理装置において、データ型とテストデータとの対応を表す標準テストデータを記憶するステップと、プログラムの名称と、該プログラムの1個又は複数の入力データのデータ名と、該入力データのデータ型との対応を表すプログラム仕様を記憶するステップと、該入力データの該データ型に対応する1個又は複数のテストデータを該標準テストデータから取得するステップと、前記ステップで取得した該1個又は複数のテストデータと、該プログラムの名称と、該入力データのデータ名との対応を対話端末に表示するステップとを有することを特徴とするデータ型対応の自動テスト方法。
IPC (2)：
G06F 11/28 340
, G06F 9/06 540
