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J-GLOBAL ID：200903073232772894

細胞外電位測定デバイスおよびその製造方法

Inventor： 牛尾 浩司 ,  中谷 将也 ,  岡 弘章 ,  尾崎 亘彦
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (3)： 岩橋 文雄 ,  坂口 智康 ,  内藤 浩樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004082240
Publication number (International publication number)：2005265758
Application date： Mar. 22, 2004
Publication date： Sep. 29, 2005
Summary：

【課題】従来の細胞外電位測定デバイスでは被験体細胞から測定電極までの距離があり、測定精度に問題があった。【解決手段】基板1の一面側にダイアフラム2を有し、ダイアフラム2を構成するいずれかの面に少なくとも一つ以上の曲面からなる窪み3を有し、この窪み3の曲面上の開口部を他方側の開口部よりも小さくした貫通孔4を有し、この貫通孔4の壁面に検出電極5を有した構成とすることにより、高精度な細胞外電位の測定を行うことができる。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

基板の一面側にダイアフラムを有し、このダイアフラムを構成するいずれかの面に少なくとも一つ以上の曲面からなる窪みを有し、この窪みの曲面上の開口部を他方側の開口部よりも小さくした貫通孔を有し、少なくともこの貫通孔の壁面にも検出電極を有した細胞外電位測定デバイス。

IPC (2)：

G01N33/48 ,  C12M1/00

FI (2)：

G01N33/48 M ,  C12M1/00 A

F-Term (9)：

2G045CB01 ,  2G045FB05 ,  2G045GC18 ,  2G045JA07 ,  4B029AA07 ,  4B029BB01 ,  4B029CC02 ,  4B029FA09 ,  4B029FA15

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 国際公開第02/055653号パンフレット
  

Cited by examiner (4)

• 細胞外電位測定デバイスおよびその製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-062229   Applicant：松下電器産業株式会社
• 細胞外電位測定デバイスおよびその製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-062228   Applicant：松下電器産業株式会社
• 細胞外電位測定デバイスおよびその製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-224563   Applicant：松下電器産業株式会社
• 細胞外電位測定デバイスおよびその製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-163934   Applicant：松下電器産業株式会社