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J-GLOBAL ID：200903073246299750

変位/ひずみ計測方法及び変位/ひずみ計測装置

Inventor： 松田 浩 ,  内野 正和 ,  伊藤 幸広 ,  吉丸 功祐 ,  山崎 力 ,  山崎 秀一 ,  内田 好祐
Applicant, Patent owner： 福岡県 ,  国立大学法人佐賀大学
Agent (2)： 角田 芳末 ,  伊藤 仁恭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005368334
Publication number (International publication number)：2007170955
Application date： Dec. 21, 2005
Publication date： Jul. 05, 2007
Summary：

【課題】より簡易に且つ高精度に計測できる変形/ひずみ計測方法及びその計測装置を提供する。【解決手段】被測定物2の表面2Aに密着もしくは近接させたラインスキャナ装置3により撮像した被測定物表面2Aの画像を取り込み、被測定物表面2Aの経時前の画像と、経時後の画像から画像解析により変位もしくはひずみを計測し、変位もしくはひずみの計測結果を出力する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

被測定物の表面に密着もしくは近接させたラインスキャナ装置により撮像した被測定物表面の画像を取り込み、 前記被測定物表面の経時前の画像と、経時後の画像から画像解析により変位もしくはひずみを計測し、 前記変位もしくはひずみの計測結果を出力する ことを特徴とする変位/ひずみ計測方法。

IPC (2)：

G01B 11/00 ,  G01B 11/16

FI (2)：

G01B11/00 H ,  G01B11/16 H

F-Term (29)：

2F065AA04 ,  2F065AA20 ,  2F065AA65 ,  2F065CC14 ,  2F065DD03 ,  2F065FF04 ,  2F065FF16 ,  2F065GG04 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ25 ,  2F065MM07 ,  2F065MM08 ,  2F065MM14 ,  2F065MM15 ,  2F065MM24 ,  2F065MM25 ,  2F065MM28 ,  2F065PP02 ,  2F065PP03 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR09 ,  2F065UU05 ,  2F065UU06

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 画像データの90度回転処理方法および装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-201162   Applicant：三田工業株式会社

Cited by examiner (4)

• 表面変位計測方法および表面変位計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-253163   Applicant：福岡県
• 形状入力方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-223884   Applicant：日本電信電話株式会社
• 特開昭62-170804
  
• タイヤの形状測定装置とその方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-181988   Applicant：東洋ゴム工業株式会社