Pat
J-GLOBAL ID:200903073284921464
ZnO系半導体素子およびその製造方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
菅原 正倫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003087668
Publication number (International publication number):2004296821
Application date: Mar. 27, 2003
Publication date: Oct. 21, 2004
Summary:
【課題】簡便に素子層の品質向上を可能とするとともに、コストの観点からも適したZnO系半導体素子およびその製造方法を提供する。【解決手段】基板として水熱合成法にて形成されたZnO単結晶基板Sを用いるとともに、該ZnO単結晶基板Sの主表面上に、エピタキシャル成長法にてZnO系化合物からなる素子層11を形成させる。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
水熱合成法により形成されたZnO単結晶基板の主表面上に、エピタキシャル成長法にてZnO系化合物からなる素子層が形成されてなることを特徴とするZnO系半導体素子。
IPC (3):
H01L21/365
, C30B29/16
, H01L33/00
FI (3):
H01L21/365
, C30B29/16
, H01L33/00 D
F-Term (31):
4G077AA03
, 4G077BB07
, 4G077CB03
, 4G077ED06
, 4G077EF03
, 4G077KA05
, 4G077KA15
, 5F041CA02
, 5F041CA41
, 5F041CA49
, 5F041CA55
, 5F041CA57
, 5F041CA65
, 5F041CA77
, 5F041CA88
, 5F045AA04
, 5F045AB22
, 5F045AC00
, 5F045AC01
, 5F045AC08
, 5F045AC19
, 5F045AD05
, 5F045AD06
, 5F045AD07
, 5F045AD08
, 5F045AD09
, 5F045AF06
, 5F045BB12
, 5F045CA09
, 5F045DA53
, 5F045HA06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
-
半導体デバイス
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-082043
Applicant:科学技術振興事業団
Return to Previous Page