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J-GLOBAL ID：200903073478768160

電子部品の加振による足浮き検出方法

Inventor： 土屋 利彦
Applicant, Patent owner： 日置電機株式会社
Agent (1)： 柳沢 大作
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994045206
Publication number (International publication number)：1995229945
Application date： Feb. 17, 1994
Publication date： Aug. 29, 1995
Summary：

【要約】【目的】 電子部品のリードの半田付け不良による足浮き状態を振動を加えて良好に検出する。【構成】 電子部品24を実装半田付けした基板22に、低周波域から高周波域まで種々の周波数成分を含む振動を加え、その基板22から電子部品24のリード28に伝達する振動を検出し、そのリード28の振動を周波数成分に分解し、その高周波域に属する任意の周波数成分と先に他の同一基板に同一振動を加え、同様に検出して分解した半田付けが良好に行なわれている同一電子部品の同一リードに伝達する振動の高周波域に属する同一周波数成分とを比較することによって足浮きの有無を判定する。

Claim (excerpt)：

電子部品を実装半田付けした基板に、低周波域から高周波域まで種々の周波数成分を含む振動を加え、その基板から電子部品のリードに伝達する振動を検出し、そのリードの振動を周波数成分に分解し、その高周波域に属する任意の周波数成分と先に他の同一基板に同一振動を加え、同様に検出して分解した半田付けが良好に行なわれている同一電子部品の同一リードに伝達する振動の高周波域に属する同一周波数成分とを比較することによって足浮きの有無を判定することを特徴とする電子部品の加振による足浮き検出方法。

IPC (3)：

G01R 31/02 ,  G01N 29/12 ,  G01R 31/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平2-054169
  
• 特開平2-054168
  
• 特開昭63-026576