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J-GLOBAL ID：200903073526712733

粒度分布測定方法

Inventor： 松居 正己
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 武石 靖彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992074867
Publication number (International publication number)：1993107176
Application date： Aug. 30, 1988
Publication date： Apr. 27, 1993
Summary：

【要約】【目的】 凝集性を有する粉体の粒度分布を高い精度で測定することができる粒度分布測定方法を提供する。【構成】 溶液中に粉体を分散させて調製したサンプルを透明基板に滴下、塗布して、基板上の分散媒を揮散させた後、この基板に対し光を照射し、粒子の大きさに応じて回折される光を測定することにより粒度分布を求める粒度分布測定方法。

Claim (excerpt)：

溶液中に粉体を分散させて調製したサンプルを透明基板に滴下、塗布し、基板上の分散媒を揮散させた後、この基板に対し光を照射し、粒子の大きさに応じて回折される光を測定することにより粒度分布を求める粒度分布測定方法。

IPC (2)：

G01N 15/02 ,  G01N 1/28

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭63-083632
  
• 特開昭63-038131