Pat
J-GLOBAL ID：200903073583152701
分光分析における多成分分析方法
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992125740
Publication number (International publication number)：1993296923
Application date： Apr. 18, 1992
Publication date： Nov. 12, 1993
Summary：
【要約】【目的】 多成分を同時に精度よく、しかも、効率的に定量分析することができる分光分析における多成分分析方法を提供すること。【構成】 試料に対して光源から光を照射し、そのとき得られる吸収スペクトルに基づいて演算処理を行うことにより試料中に含まれる多成分の濃度を同時に定量分析する方法において、前記多成分を吸収ピークの形状および吸収領域に基づいて複数の成分群にグループ分けし、各成分群に最も適切な定量演算手法で定量する。
Claim (excerpt)：
試料に対して光源から光を照射し、そのとき得られる吸収スペクトルに基づいて演算処理を行うことにより試料中に含まれる多成分の濃度を同時に定量分析する方法において、前記多成分を吸収ピークの形状および吸収領域に基づいて複数の成分群にグループ分けし、各成分群に最も適切な定量演算手法を用いるようにしたことを特徴とする分光分析における多成分分析方法。
IPC (2)：
Return to Previous Page
