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J-GLOBAL ID：200903073640671460

光ポンピング磁力計

Inventor： 小林 哲生 ,  石川 潔 ,  田上 周路 ,  水谷 夏彦 ,  杉岡 秀行 ,  市原 直
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (3)： 宮崎 昭夫 ,  石橋 政幸 ,  緒方 雅昭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008081280
Publication number (International publication number)：2009236599
Application date： Mar. 26, 2008
Publication date： Oct. 15, 2009
Summary：

【課題】検出信号強度を増大させることによって、より高感度な磁場検出を可能にする光ポンピング磁力計を提供する。【解決手段】ガス状態をとり得る原子群が封入されているセル110と、原子群をスピン偏極させるためのポンプ光を発生するポンプ光源130と、セル110にプローブ光を照射するプローブ光源140と、プローブ光の偏光面の回転を検出するための検出器160と、を備えた光ポンピング磁力計1であって、プローブ光を反射させるための少なくとも1つの反射ミラー120を備え、反射ミラー120が、セル110内を横断した後のプローブ光を反射させる位置に設けられており、プローブ光が、セル110内を少なくとも2回以上横断した後で検出器160に終端するように構成されていることを特徴とする。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

ガス状態をとり得る原子群が封入されているセルと、 前記原子群をスピン偏極させるためのポンプ光を発生するポンプ光源と、 前記セルにプローブ光を照射するプローブ光源と、 前記プローブ光の偏光面の回転を検出するための検出器と、 を備えた光ポンピング磁力計において、 前記プローブ光を反射させるための少なくとも1つの反射ミラーを備え、 前記反射ミラーが、前記セル内を横断した後の前記プローブ光を反射させる位置に設けられており、前記プローブ光が、前記セル内を少なくとも2回以上横断した後で前記検出器に終端するように構成されていることを特徴とする光ポンピング磁力計。

IPC (2)：

G01R 33/032 ,  G01R 33/26

FI (2)：

G01R33/032 ,  G01N24/00 P

F-Term (5)：

2G017AA02 ,  2G017AC09 ,  2G017AD12 ,  2G017BA15 ,  2G017CD03

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 米国特許第7038450号明細書