Pat

J-GLOBAL ID：200903073669225078

X線量の算出方法

Inventor： マグヌス ホウスカ ,  デトレフ ホフマン
Applicant, Patent owner： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
Agent (1)： 山口 巖
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002216170
Publication number (International publication number)：2003093374
Application date： Jul. 25, 2002
Publication date： Apr. 02, 2003
Summary：

【要約】【課題】 X線検査によるX線量を簡単に算出可能にする。【解決手段】 X線装置(3)による検査によって生体(5)が曝射されるX線量を、検査中に形成されたX線像に属するデータセットから算出する方法において、データセットが本来のX線像に属する像データとX線量を算出するために適したデータとを含み、a)X線量を算出するために適したデータをデータセットから抽出するステップと、b)X線量を算出するために適したデータに基づいてX線量を算出するステップとが行なわれる。

Claim (excerpt)：

X線装置(3)による検査によって生体(5)が曝射されるX線量を、検査中に形成されたX線像に属するデータセットから算出する方法において、データセットが本来のX線像に属する像データとX線量を算出するために適したデータとを含み、a)X線量を算出するために適したデータをデータセットから抽出するステップ、b)X線量を算出するために適したデータに基づいてX線量を算出するステップが行なわれることを特徴とするX線量の算出方法。

F-Term (7)：

4C093AA26 ,  4C093CA34 ,  4C093FH03 ,  4C093FH06 ,  4C093FH07 ,  4C093FH08 ,  4C093FH09