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J-GLOBAL ID：200903073681974132

光学的測定方法及びその装置

Inventor： 中西 豊
Applicant, Patent owner： 財団法人雑賀技術研究所
Agent (1)： 竹田 明弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994041944
Publication number (International publication number)：1995229840
Application date： Feb. 15, 1994
Publication date： Aug. 29, 1995
Summary：

【要約】【目的】 コンベアーで搬送中の被測定物を対象にして、サイズの大小にかかわらず、光学的測定ができるようにする。【構成】 コンベアー1の搬送路に沿ってサイズ測定器10と測定装置本体20とがある。測定装置本体20は、コンベアーを挟んで対向状に設けられた投光部21と受光部22とからなる。受光部22は、分光用の回折格子33と、分光の光量を測定する、電荷蓄積方式のラインセンサ34とを有する。サイズ測定器10からの信号は、信号処理・制御装置40を介してラインセンサ34に送られ、被測定物Aのサイズに合わせて蓄積時間が調節される。

Claim (excerpt)：

被測定物に測定用光線を照射し、その透過光を分光した上で、光量を測定する光学的測定方法において、搬送中の被測定物を測定対象とし、分光の光量測定は電荷蓄積方式で行い、被測定物のサイズに合わせて蓄積時間を増減調節して測定することを特徴とする光学的測定方法。

IPC (3)：

G01N 21/85 ,  G01N 21/35 ,  G01N 33/02