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J-GLOBAL ID：200903073712604584
ストレス度測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
西岡 伸泰
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994292214
Publication number (International publication number)：1996126614
Application date： Oct. 31, 1994
Publication date： May. 21, 1996
Summary：
【要約】【目的】 安静時に対するストレス負荷時のストレス度を定量的に把握出来るストレス度測定装置を提供する。【構成】 測定装置は、指部の皮膚温を測定する測定器1を具え、該測定器による測定データが演算処理回路5に供給される。演算処理回路5は、安静時の指部皮膚温を基準とする指部皮膚温の低下量とストレス度との関係を関数式として予め格納しており、指部皮膚温の測定データに基づいて指部皮膚温の低下量を算出すると共に、前記関数式を用いて指部皮膚温の低下量に応じたストレス度を算出する。
Claim (excerpt)：
安静時に対するストレス負荷時のストレス度を測定する装置であって、抹消部の皮膚温を測定する温度測定手段と、安静時の抹消部皮膚温を基準とする抹消部皮膚温の低下量とストレス度との対応関係が予め格納されているメモリ手段と、前記温度測定手段による測定データに基づいて抹消部皮膚温の低下量を算出すると共に、前記メモリ手段から抹消部皮膚温の低下量に応じたストレス度を導出する演算処理手段とを具えたストレス度測定装置。
Patent cited by the Patent：
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