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J-GLOBAL ID：200903073716043820
故障診断装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994061624
Publication number (International publication number)：1995271590
Application date： Mar. 30, 1994
Publication date： Oct. 20, 1995
Summary：
【要約】 (修正有)【目的】 完成度の高い知識データを用いることなく、高い診断精度を得る。【構成】 推論機構部14の文字列検索部14aでは、入力された不具合現象の文字列と上記各知識データに記憶されている原因現象及び部品等の文字列との類似度を算出する。そして、ルール・ベース推論部14bでは、類似度に従って、故障樹木解析(FTA)型知識データ記憶部16bと故障モード影響分析(FMECA)型知識データ記憶部16cとのそれぞれ記憶されている知識データを選出し、この知識データに基づき推論により故障原因を探究し仮説を生成する。また、事例ベース推論部14cでは、類似度に従い診断事例型知識データ記憶部16aに記憶されている知識データを選出し、この知識データに従い推論により故障原因を探究し仮説を生成する。また、推論制御部14dでは、各知識データに基づいて生成した仮説の整合性を判断し、整合している場合には、この仮説を探究結果として出力する。
Claim (excerpt)：
故障診断に必要な知識データを記憶する知識ベース部(16)と、この知識データを利用して故障原因を推論により探究する推論機構部(14)とを有する故障診断装置において、前記知識ベース部(16)に、過去の診断事例を知識データとして記憶する診断事例型知識データ記憶部(16a)と、不具合現象と故障原因との因果関係を理論的に分析し仮説の集合としてツリー状に表した知識データを記憶する故障樹木解析型知識データ記憶部(16b)とを備え、前記推論機構部(14)に、入力された不具合現象と同一又は類似の不具合現象を上記診断事例型知識データ記憶部(16a)に記憶されている知識データから探索して故障原因を探究し仮説を生成する事例ベース推論部(14c)と、入力された不具合現象に結びつく故障原因を上記故障樹木解析型知識データ記憶部(16b)に記憶されている知識データを利用して推論により探究し仮説を生成するルール・ベース推論部(14b)と、上記各推論部(14b,14c)で生成した仮説の整合性を判断し各仮説が整合している場合にはこの仮説を推論結果として出力し、一方上記各推論部(14b,14c)で生成した仮説が競合する場合には、この競合する仮説の少なくとも1つを選択し、この選択した仮説と上記不具合現象とに基づいて上記各推論部(14b,14c)で再推論を実行させる推論制御部(14d)とを備えることを特徴とする故障診断装置。
IPC (5)：
G06F 9/44 550
, G06F 9/44
, B64F 5/00
, G01M 17/007
, G01M 19/00
