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J-GLOBAL ID:200903073735375701
帯電防止膜の製造方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
池内 寛幸 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992109875
Publication number (International publication number):1993179026
Application date: Apr. 28, 1992
Publication date: Jul. 20, 1993
Summary:
【要約】【目的】 化学吸着法を用いて導電基を化学吸着膜の分子内に導入することにより、きわめて薄いナノメータレベルの膜厚の帯電防止膜を基体表面に、基体本来の機能を損なうことなく形成する。【構成】 フィルム基材21表面の水酸基にたとえばSiCl4 を接触させ、加水分解することによりシロキサン単分子膜23を得る。次にたとえばHSi(CH3 )2 (CH2 )19SiCl3 を含む非水溶液を接触させて化学吸着単分子膜24を形成する。次にアルカリ処理または酸化処理により単分子膜24の末端を水酸基25などの帯電防止基に変性する。
Claim (excerpt):
基材表面に基材と化学結合させて帯電防止膜を製造する方法であって、まず一端にクロルシリル基を有する化学吸着剤を非水系有機溶媒に溶解して化学吸着液を調製し、前記化学吸着液を表面が親水性の基材表面に接触させ、化学吸着単分子膜を基材表面に形成する工程と、前記形成された化学吸着単分子膜の末端基にアルカリ処理、または酸化処理によって帯電防止官能基を付与する工程を含むことを特徴とする帯電防止膜の製造方法。
IPC (6):
C08J 7/04
, B32B 27/00 101
, C08J 7/12
, C09K 3/16 109
, H05F 1/02
, B32B 9/00
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