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J-GLOBAL ID：200903073842205150

光測定装置

Inventor： 綱沢 義夫
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 竹本 松司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996237746
Publication number (International publication number)：1998082732
Application date： Sep. 09, 1996
Publication date： Mar. 31, 1998
Summary：

【要約】【課題】 光測定装置において、深さ方向について区別して測定を行う。【解決手段】 光測定装置1は、被検体9に送光し、被検体中を散乱あるいは透過した光を受光することによって被検体を光学的に測定する光測定装置において、送光光は異なる波長を含み、この異なる波長に応じて被検体上の送光点Sと受光点Dとの距離を異ならせる。これによって、光路長を小さくすると同時に吸収が大きな波長域を選択して、光路長と実効減衰係数の積を同等とすることによって、被検体の浅い部分に対しても検出感度を下げることなく測定を行い、深さ方向について区別して測定する。

Claim (excerpt)：

被検体に送光し、被検体中を散乱あるいは透過した光を受光することによって被検体を光学的に測定する光測定装置において、前記送光光は異なる波長を含み、被検体上において送光点と受光点との距離を前記波長に応じて異ならせることを特徴とする光測定装置。