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J-GLOBAL ID：200903073844595118

腐食モニタカードおよびその腐食モニタ方法

Inventor： 石川 雄一 ,  保坂 信義 ,  大城戸 忍
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993259608
Publication number (International publication number)：1995113740
Application date： Oct. 18, 1993
Publication date： May. 02, 1995
Summary：

【要約】【構成】絶縁基板1上に構成した微細電極2の正弦交流電圧に対する電流応答の解析から電極のインピーダンスを測定、また圧電基板11の共振周波数の変化から電極21の質量変化を求める腐食モニタ素子40をカード基板41上に配置し、腐食モニタカード44とした。【効果】微少な腐食を生じる緩やかな腐食環境の腐食性を定量化,モニタすることができる。

Claim (excerpt)：

環境の腐食性を定量化するための腐食モニタカードにおいて、絶縁基板上に配置した微細な電極の腐食に伴う交流インピーダンス特性の変化から環境の腐食性を定量化する回路を備えた腐食モニタ素子を備えていることを特徴とする腐食モニタカード。

IPC (4)：

G01N 17/02 ,  G01N 5/02 ,  G01N 27/00 ,  G01N 27/26 351