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J-GLOBAL ID：200903073917870597

波長測定方法及び装置

Inventor： 黒崎 亮 ,  菊地 純
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 北野 好人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994225187
Publication number (International publication number)：1996094446
Application date： Sep. 20, 1994
Publication date： Apr. 12, 1996
Summary：

【要約】【目的】 短時間内に発生する光の波長の変化を測定する波長測定方法及び装置に関し、分光のための掃引時間を必要とせず、高速で変化する波長測定を行うことができる波長測定方法及び装置を提供することを目的とする。【構成】 予め屈折率が知れている基準物質6に、照射手段1、2、3からその基準物質を透過し、干渉性のある被測定光を平行光として照射し、測定手段7、8、9、10は、被測定光の透過光又は反射光の強度変化に基づいて被測定光の波長変化を測定する。分光のための掃引時間を必要とせず、高速で変化する波長測定を行うことができる。

Claim (excerpt)：

予め屈折率が知れている基準物質にその基準物質を透過し、干渉性のある被測定光を平行光として照射し、前記被測定光の透過光又は反射光の強度変化に基づいて前記被測定光の波長変化を測定することを特徴とする波長測定方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開平2-128126
  
• 特開平2-042329
  
• 波長変動量測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-053994   Applicant：日本電気株式会社
• 特開平4-285830
  
• 特開昭60-057694