3次元形状測定装置におけるカメラパラメータ校正方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：香山秀幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002138284
Publication number (International publication number)：2003329423
Application date： May. 14, 2002
Publication date： Nov. 19, 2003
Summary：

【要約】【課題】この発明は、カメラの外部パラメータの校正が容易となる3次元形状計測装置のカメラ校正方法を提供することを目的とする。【解決手段】複数の平面部を備え、各平面部上にはその平面部上の二次元座標が既知である少なくとも6点以上の参照点が配置されている校正治具を、軌道の内側に配置するステップ、ならびに軌道上の複数の測定位置において、校正治具の各平面部の参照点の画像をカメラによって取得し、取得した参照点の画像に基づいて、軌道上の複数の測定位置におけるカメラの外部パラメータを推定するステップを備えている。

Claim (excerpt)：

軌道上の複数の測定位置から被測定物をカメラで撮像することにより、被測定物の3次元形状を測定する3次元形状測定装置におけるカメラパラメータ校正方法において、複数の平面部を備え、各平面部上にはその平面部上の二次元座標が既知である少なくとも6点以上の参照点が配置されている校正治具を、軌道の内側に配置するステップ、ならびに軌道上の複数の測定位置において、校正治具の各平面部の参照点の画像をカメラによって取得し、取得した参照点の画像に基づいて、軌道上の複数の測定位置におけるカメラの外部パラメータを推定するステップ、を備えていることを特徴とする3次元形状測定装置におけるカメラパラメータ校正方法。

IPC (2)：

G01B 11/24 , G06T 1/00 315

FI (2)：

G06T 1/00 315 , G01B 11/24 K

F-Term (20)：

2F065AA53 , 2F065BB05 , 2F065DD06 , 2F065FF04 , 2F065FF61 , 2F065FF67 , 2F065GG07 , 2F065GG15 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065PP02 , 2F065QQ21 , 2F065QQ28 , 2F065QQ31 , 5B057BA13 , 5B057CA13 , 5B057CA16 , 5B057DA20 , 5B057DB03 , 5B057DC01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

実立体モデル作成装置、立体データ作成装置、疑似立体データ作成装置並びにその方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-021003 Applicant：三洋電機株式会社
特開昭64-044805

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