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J-GLOBAL ID：200903074073530317
プロセスラインの張力計測方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
細江 利昭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993297643
Publication number (International publication number)：1995151622
Application date： Nov. 29, 1993
Publication date： Jun. 16, 1995
Summary：
【要約】【目的】 プロセスラインのストリップにかかる張力を精度よく測定する。【構成】 プロセスラインに設けた張力検出ロール3にストリップ1を巻き付けて、ストリップ1にかかる張力をロードセル5で計測するプロセスラインの張力計測方法において、計測するストリップ1の張力に応じて、張力検出ロール3に巻き付けたストリップ1の巻付け角を多段階に切り換えて張力を計測するプロセスラインの張力計測方法。【効果】 1種類のロードセルでかつ一定の感度で、広い範囲の張力を正確に検出することができる。
Claim (excerpt)：
プロセスラインに設けた張力検出ロールにストリップを巻き付けて、ストリップにかかる張力をロードセルで計測するプロセスラインの張力計測方法において、計測するストリップの張力に応じて、張力検出ロールに巻き付けたストリップの巻付け角を段階的に切り換えて張力を計測することを特徴とするプロセスラインの張力計測方法。
IPC (2)：
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