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J-GLOBAL ID:200903074080594762
疵学習装置、疵学習方法、及びコンピュータプログラム
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
國分 孝悦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2009005124
Publication number (International publication number):2009265082
Application date: Jan. 13, 2009
Publication date: Nov. 12, 2009
Summary:
【課題】 教師データを定常的に収集しなくても、疵の検査を可及的に正確に行えるようにする。【解決手段】 学習モデルA〜Cを更新すると、それら学習モデルA〜Cに含まれる部分特徴量空間のうち、更新前後において変化のなかった部分特徴量空間の数に基づいて、検査員が設定した"疵種に関する正解データ"を疵データに付与して学習モデルを生成する教師付き学習と、学習モデルに適用することにより得られた"疵種に関するデータ"を疵データに付与して学習モデルを生成する教師なし学習との何れを行うのかを自動的に判定する。【選択図】 図9
Claim (excerpt):
検査対象物の画像から、疵に関する特徴量を含む疵データを取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された疵データであって、複数の疵種における疵データを用いて、当該複数の疵種を分離できる特徴量の値の組み合わせを判別する判別手段と、
前記判別手段により、複数の疵種を分離できると判別された特徴量の値の組と、当該複数の疵種とを対応付けるための部分特徴量空間から学習モデルを生成する生成手段と、
前記生成手段により生成された学習モデルを記憶媒体に記憶して、当該記憶媒体に記憶されている学習モデルを更新する更新手段と、
前記記憶媒体に既に記憶されている学習モデルと、前記生成手段により新たに生成された学習モデルとを比較して、学習モデルを自律して生成するか否かを判定する判定手段とを有することを特徴とする疵学習装置。
IPC (3):
G01N 21/88
, G01N 21/892
, G06T 7/00
FI (3):
G01N21/88 J
, G01N21/892 B
, G06T7/00 350B
F-Term (14):
2G051AA37
, 2G051AB02
, 2G051AC04
, 2G051ED21
, 2G051GD03
, 5L096FA18
, 5L096FA37
, 5L096FA59
, 5L096FA64
, 5L096FA70
, 5L096GA34
, 5L096JA11
, 5L096JA22
, 5L096KA04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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教示用データ作成方法並びに欠陥分類方法およびその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-154865
Applicant:株式会社日立製作所
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画像自動分類方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-065151
Applicant:株式会社日立製作所
-
表面欠陥検出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-247703
Applicant:川崎製鉄株式会社
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検査装置および検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-074673
Applicant:オムロン株式会社
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Article cited by the Patent:
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