Pat
J-GLOBAL ID:200903074123151690
傾き検出方法及び装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
高矢 諭 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001001800
Publication number (International publication number):2002206920
Application date: Jan. 09, 2001
Publication date: Jul. 26, 2002
Summary:
【要約】【課題】 簡単な構成で、測定面の傾きを精度良く測定する。【解決手段】 測定面(20)に対して、傾きを検出したい面内で複数本の平行ビーム24、26を近接照射し、照射方向とは異なる方向から反射光を受光した時の受光点P1、P2の間隔Pnに基づいて、測定面の傾きを検出する。
Claim (excerpt):
測定面に対して複数本の平行ビームを照射し、照射方向とは異なる方向から反射光を受光した時の受光点の間隔に基づいて、測定面の傾きを検出することを特徴とする傾き検出方法。
IPC (3):
G01B 11/26
, G01C 9/06
, H01L 21/027
FI (3):
G01B 11/26 Z
, G01C 9/06 A
, H01L 21/30 526 B
F-Term (20):
2F065AA35
, 2F065BB01
, 2F065BB25
, 2F065CC19
, 2F065CC25
, 2F065DD02
, 2F065FF09
, 2F065GG06
, 2F065GG13
, 2F065HH04
, 2F065HH12
, 2F065JJ02
, 2F065JJ08
, 2F065JJ16
, 2F065JJ25
, 2F065QQ26
, 2F065QQ28
, 5F046CC11
, 5F046DA05
, 5F046DB05
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