相反光学素子を用いた光コヒーレンス領域反射測定法および光コヒーレンス断層撮影法のための干渉計

Inventor： ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：山本秀策
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000570524
Publication number (International publication number)：2003524758
Application date： Sep. 10, 1999
Publication date： Aug. 19, 2003
Summary：

【要約】干渉計システムは、光放射光源(106)、光放射光源(106)からサンプル位置(114)へと光放射を伝達するための、光放射光源(106)とサンプル位置(114)との間で接続された光サーキュレータ(112)、および光放射を光検出器(120)へと向けるように接続された光サーキュレータ(112)の出力を含む。このようなシステムの種々の実施形態が可能である。サンプルのOCDRまたはOCT結像を実施する方法は以下の工程を含む:(a)低コヒーレンス光放射を生成する工程;(b)光サーキュレータを介して低コヒーレンス光放射の少なくとも幾らかをサンプルへと向ける工程;(c)低コヒーレンス光放射の少なくとも幾らかをサンプルから反射させる工程;および(d)反射した低コヒーレンス光放射の少なくとも幾らかを検出し、それに対応する電気信号を生成する工程。

Claim (excerpt)：

OCDRまたはOCT結像システムに使用するための干渉計であって、以下、低コヒーレンス光放射光源と、該低コヒーレンス光放射光源からの光放射を受け取るように接続された第1入力を有する第1ビームスプリッタと、該第1ビームスプリッタの第1出力からの光放射を受け取るように接続された第1入力、該第1入力から結像されるべきサンプルへ光学的放射を向けるための第1出力、該サンプルにより反射された光放射を受け取るための該第1出力と同じように接続された第2入力、および該第2入力からの光放射を受け取るための第2出力を有する第1非相反光学素子と、非相反光学素子の第2出力からの光放射を受け取るように接続された第1入力を有する第2ビームスプリッタと、該第2ビームスプリッタからの光放射を受け取るように接続された光放射検出器と、を備える、干渉計。

IPC (5)：

G01N 21/17 630 , A61B 10/00 , G01B 9/02 , G01B 11/16 , G01B 11/24

FI (6)：

G01N 21/17 630 , A61B 10/00 E , G01B 9/02 , G01B 11/16 G , G01B 11/24 A , G01B 11/24 D

F-Term (53)：

2F064AA09 , 2F064AA11 , 2F064CC01 , 2F064EE01 , 2F064FF00 , 2F064GG02 , 2F064GG12 , 2F064GG22 , 2F064GG24 , 2F064GG51 , 2F064GG68 , 2F064HH06 , 2F065AA53 , 2F065BB05 , 2F065CC16 , 2F065DD04 , 2F065DD05 , 2F065EE03 , 2F065FF52 , 2F065FF61 , 2F065GG00 , 2F065HH13 , 2F065JJ05 , 2F065JJ09 , 2F065LL02 , 2F065LL12 , 2F065LL31 , 2F065LL53 , 2F065MM02 , 2F065NN05 , 2F065QQ11 , 2F065QQ25 , 2F065UU07 , 2G059AA05 , 2G059BB12 , 2G059CC16 , 2G059EE02 , 2G059EE05 , 2G059EE09 , 2G059FF01 , 2G059FF08 , 2G059GG00 , 2G059GG04 , 2G059JJ17 , 2G059JJ18 , 2G059JJ19 , 2G059JJ22 , 2G059KK01 , 2G059KK03 , 2G059LL02 , 2G059LL04 , 2G059MM01 , 2G059MM03

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平9-531100 Applicant：マサチューセッツインスティテュートオブテクノロジー
光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-353884 Applicant：マサチューセッツインスティテュートオブテクノロジー
生体組織の光学走査用機器
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平10-538826 Applicant：マサチューセッツインスティチュートオブテクノロジー

Return to Previous Page