プラントの制御状態の解析方法及び解析装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000000724
Publication number (International publication number)：2001195122
Application date： Jan. 06, 2000
Publication date： Jul. 19, 2001
Summary：

【要約】【課題】プロセスを制御する制御装置から出力されるCRT表示データやイベントデータが有効に活用されていなかったという課題を解決する。【解決手段】プラントを制御する制御装置から抽出されるイベント情報などの情報を一定期間蓄積して、この蓄積した情報およびデータベースからそのプラントの問題点およびその対策を推定するようにし、この推定した問題点およびその対策を前記データベースに保管して蓄積するようにした。データベースに過去の問題点と対策を整理することにより、迅速に対策を求めることができる。また、プラントを制御する制御装置から出力されるコントロールタグの総数に対する操作タグ数の比および総タグ数に対するアラーム・メッセージ数の比によって複数のパターンに分類し、このパターンによって前記プラントの問題点およびその対策を類型化するようにした。簡単な処理で問題点およびその対策を推定することができる。

Claim (excerpt)：

プラントを制御する制御装置から抽出される情報を一定期間蓄積して、この蓄積した情報およびデータベースから当該プラントの問題点およびその対策を推定すると共に、この推定した問題点およびその対策を前記データベースに蓄積するようにしたことを特徴とするプラントの制御状態の解析方法。

IPC (2)：

G05B 23/02 301 , G05B 23/02

FI (2)：

G05B 23/02 301 V , G05B 23/02 301 Z

F-Term (6)：

5H223AA01 , 5H223CC08 , 5H223DD03 , 5H223DD09 , 5H223EE06 , 5H223EE30

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