Pat

J-GLOBAL ID：200903074182975388

架線検査方法および架線検査装置

Inventor： 上原 裕隆 ,  上田 澄広 ,  金丸 孝夫 ,  飯島 剛平 ,  岡 明彦 ,  中野 康夫 ,  上月 敏裕 ,  村田 聰 ,  酒井 謙次
Applicant, Patent owner： 川崎重工業株式会社 ,  西日本旅客鉄道株式会社
Agent (1)： 曽々木 太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995303750
Publication number (International publication number)：1997118153
Application date： Oct. 26, 1995
Publication date： May. 06, 1997
Summary：

【要約】【課題】 架線の種類に関係なく、しかも架線の上方に存在する張架線等に影響されることなく、架線の摺面幅が正確に測定できる架線検査方法および架線検査装置を提供する。【解決手段】 架線10のほぼ真下から集光形照明装置3により架線10を斜めに照明し、その照明された個所の右横下方および左横下方から、例えばラインセンサカメラ1,2により撮像し、画像処理・制御装置4により、その撮像画像の輝度が極大値となる個所を摺面のエッジとして摺面幅を算出するものである。

Claim (excerpt)：

架線のほぼ真下から架線を斜めに集光的に照射する手順と、架線の照射された個所を、その右横斜め下方および左横斜め下方から撮像する手順と、両画像の対応する画素列における輝度が極大値となる位置を検出する手順と、前記検出された輝度の極大値となる位置の座標を算出する手順と、前記算出された座標により摺面幅を算出する手順とを含んでなることを特徴とする架線検査方法。