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J-GLOBAL ID：200903074252092748

プログラムのテストシステム

Inventor： 上田 裕明 ,  菊池 庸之
Applicant, Patent owner： 日本電気株式会社 ,  日本電気ホームエレクトロニクス株式会社
Agent (1)： 後藤 洋介 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993310335
Publication number (International publication number)：1995160535
Application date： Dec. 10, 1993
Publication date： Jun. 23, 1995
Summary：

【要約】【目的】 被テストプログラムのテストを正確に行い、テスト作業を容易、短時間にすることのできるテストシステムを提供すること。【構成】 被テストプログラム15のファイル名やテストするために必要なルーチン名などが予め書き込まれるパラメータファイル7と、被テストプログラムとの間でデータを送受信するテストプログラム1と、実行時にテストプログラムにより呼び出されて、ルーチン内の関数本体がリンクされるライブラリモジュールLM9と、被テストプログラムを実行した後の結果が書き込まれる履歴ファイル8とを具備した。

Claim (excerpt)：

ハードウエアとOSの間でデータの入出力を制御する複数の被テストプログラムをテストするテスト処理システムにおいて、被テストプログラムのファイル名やテストするために必要なルーチン名などが予め書き込まれるパラメータファイルと、被テストプログラムとの間でデータを送受信するテストプログラムと、実行時にテストプログラムにより呼び出されて、ルーチン内の関数本体がリンクされるライブラリモジュール(以降、LMと略称する)と、被テストプログラムを実行した後の結果が書き込まれる履歴ファイルとを具備することを特徴とするプログラムのテストシステム。