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J-GLOBAL ID：200903074256075490

レンズ偏心測定装置

Inventor： 小川 治男 ,  大川 金保 ,  中村 泰 ,  菅田 茂也 ,  岩崎 暢喜 ,  後藤 光夫 ,  野澤 龍介 ,  川俣 健
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 奈良 武
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992186279
Publication number (International publication number)：1994137993
Application date： Jun. 19, 1992
Publication date： May. 20, 1994
Summary：

【要約】【目的】 被検レンズの偏心量を高精度に測定する。【構成】 レーザ光源1からマスター金型10に投射する光束の光軸をZ軸として、その軸回りに回動可能であると共に、当該Z軸と直交するX軸およびY軸方向に移動可能であり、且つXZ面およびYZ面内で傾斜可能なマスター金型支持台11と、Z軸方向に移動可能で前記マスター金型外径部のX方向の変位を測定する第1の変位測定機12と、被検レンズ30に投射する光束の光軸をZ′軸として、その軸回りに回動可能であると共に、当該Z′軸と直交するX′軸およびY′軸方向に移動可能であり、且つX′Z′面およびY′Z′面内で傾斜可能な被検レンズ支持台13と、Z′軸方向に移動可能で被検レンズ外径部のX′方向の変位を測定する第2の変位測定機14と、被検レンズ支持台13のX′方向およびY′方向の移動量を測定する移動量測定機15a,15bと、被検レンズ支持台13のX′Z′面およびY′Z′面の傾斜角を測定する傾斜角測定機16a,16bとを備えることにより、測定を高精度とする。

Claim (excerpt)：

被検レンズからの反射光と、測定基準となるマスター金型からの反射光とを干渉させてレンズ面の偏心量を測定する装置において、前記マスター金型に投射する光束の光軸をZ軸として、その軸回りに回動可能であると共に、当該Z軸と直交するX軸およびY軸方向に移動可能であり、且つXZ面およびYZ内で傾斜可能なマスター金型支持台と、前記Z軸方向に移動可能で前記マスター金型外径部のX方向の変位を測定する第1の変位測定機と、前記被検レンズに投射する光束の光軸をZ′軸として、その軸回りに回動可能であると共に、当該Z′軸と直交するX′軸およびY′軸方向に移動可能であり、且つX′Z′面およびY′Z′面内で傾斜可能な被検レンズ支持台と、前記Z′軸方向に移動可能で前記被検レンズ外径部のX′方向の変位を測定する第2の変位測定機と、前記被検レンズ支持台のX′方向およびY′方向の移動量を測定する移動量測定機と、前記被検レンズ支持台のX′Z′面およびY′Z′面の傾斜角を測定する傾斜角測定機とを備えていることを特徴とするレンズ偏心測定装置。