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J-GLOBAL ID:200903074316716759
ZnO系焼結体およびその製造方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
鴨田 朝雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998140192
Publication number (International publication number):1999322332
Application date: May. 21, 1998
Publication date: Nov. 24, 1999
Summary:
【要約】【課題】 スパッタリングターゲットとして用いて、異常放電の発生が少なく、低抵抗・高透過率を有するZnO膜を成膜することがきるZnO系焼結体およびその製造方法を提供する。【解決手段】 ZnO系焼結体は、B、In、Al、Ga、Ge、Sn、Si、Tiのうちの少なくとも1種がZnOに固溶し、焼結密度4.5g/cm3 以上、体積抵抗率1kΩ・cm以下、平均結晶粒径2〜20μmを有する。ZnO系焼結体の製造方法では、上記添加元素の酸化物とZnOからなる粉末を調製し、800〜1300°Cを速く昇温し、1000〜1500°Cで焼結する。
Claim (excerpt):
(1)B、In、Al、Ga、Ge、Sn、SiおよびTiからなる群から選ばれた少なくとも1種が0.2〜14原子%固溶したZnO相を組織の主な構成相とし、(2)焼結密度が4.5g/cm3 以上、(3)体積抵抗率が1kΩ・cm以下、かつ(4)平均結晶粒径が2〜20μmであるZnO系焼結体。
IPC (2):
FI (2):
C01G 9/02 A
, C23C 14/34 A
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