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J-GLOBAL ID：200903074334311340

分布を解析する方法及び装置

Inventor： ジェ・スン ,  ペン・リ ,  ジャン・ブライアン・ウィルストラップ
Applicant, Patent owner： ウェイブクレスト・コーポレイション
Agent (2)： 河宮 治 ,  石野 正弘
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2003553487
Publication number (International publication number)：2005513841
Application date： Dec. 13, 2002
Publication date： May. 12, 2005
Summary：

ランダム成分と確定的な成分とを有する測定可能な分布を解析するための方法、装置及び製品を提供する。本方法は、データを収集するステップと、複数の確定的関数と複数のランダム関数との畳み込みであるような確率密度関数を上記データに基づいて生成するステップと、少なくとも1つは未知である3つ以上のパラメータを有する確定的及びランダムな畳み込みモデルに基づいて確率密度関数を生成するステップと、逆畳み込み演算処理を用いることにより未知のパラメータを決定するステップとを含む。

Claim (excerpt)：

ランダム成分と確定的成分とを有する測定可能な分布を解析する方法であって、 (a)データソースからデータを収集するステップと、 (b)複数の確定的関数と複数のランダム関数との畳み込みであり、分布を定義するような確率密度関数を上記データに基づいて生成するステップと、 (c)少なくとも1つのパラメータが未知である、3つ以上のパラメータを有し、かつ確定的モデルとランダムモデルとを有する畳み込みモデルに基づいて確率密度関数を生成するステップと、 (d)逆畳み込み演算処理を用いて未知のパラメータを決定するステップとを含む方法。

IPC (2)：

H04L29/14 ,  G06F17/18

FI (2)：

H04L13/00 315 ,  G06F17/18 Z

F-Term (7)：

5B056BB64 ,  5B056HH01 ,  5K035AA03 ,  5K035BB01 ,  5K035DD01 ,  5K035EE01 ,  5K035MM01