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J-GLOBAL ID：200903074357775590
欠陥深さ測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995024280
Publication number (International publication number)：1996220078
Application date： Feb. 13, 1995
Publication date： Aug. 30, 1996
Summary：
【要約】【目的】 被検体における欠陥深さ及び欠陥先端部位置を正確に測定できる欠陥深さ測定装置を提供する。【構成】 被検体11上に送信探触子12が配置されている。この送信探触子12に対向して第1受信探触子13と第2受信探触子14が配置されている。また、送信探触子12、第1受信探触子13、第2受信探触子14はそれぞれ信号線17a〜17cを介して探傷器部16内のパルス発生回路18、受信回路20a,20bに接続される。また、パルス発生回路18は、同期回路部19に接続される。第1受信探触子13、第2受信探触子14の各々によって受信された探傷信号は、それぞれ受信回路20a,20bを経て伝搬時間測定回路21に出力される。伝搬時間測定回路21から出力された伝搬時間情報を基に、演算部22は被検体11の欠陥深さを演算により求め、結果出力部23において出力する。
Claim (excerpt)：
パルス信号を発生する手段と、この手段により発生したパルス信号を基に被検体内に超音波を発信する送信探触子と、この送信探触子に対向して所定の距離をおいて配置され、上記送信探触子から発信されて上記被検体内を伝搬する超音波を探傷信号として受信する第1の受信探触子と、上記送信探触子から上記第1の受信探触子とは異なる距離をおいて配置され、上記送信探触子から発信されて上記被検体内を伝搬する超音波を探傷信号として受信する第2の受信探触子と、上記第1の受信探触子及び第2の受信探触子の各々において受信された探傷信号の伝搬時間を測定する伝搬時間測定手段と、この伝搬時間測定手段により、上記被検体に欠陥が存在する場合と存在しない場合の両方について測定された伝搬時間を基に、上記第1の受信探触子において発生する伝搬時間の遅れと第2の受信探触子において発生する伝搬時間の遅れに基づき、上記欠陥の深さ及び欠陥位置を検出する検出手段とを具備したことを特徴とする欠陥深さ測定装置。
IPC (2)：
G01N 29/22 504
, G01N 29/18
G01N 29/22 504
, G01N 29/18
