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J-GLOBAL ID：200903074391636485

物体のひび割れの検出方法

Inventor： 松岡 秀貴
Applicant, Patent owner： 松岡 秀貴
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993231066
Publication number (International publication number)：1995077498
Application date： Aug. 05, 1993
Publication date： Mar. 20, 1995
Summary：

【要約】【目的】 物体のひび割れを、人間の視覚能力以上の検出を行い視覚化させて、精細なひび割れの検出を可能にする。【構成】 対象物体を、有効透過波長が380〜510nm程度のバンドパスフィルタを介在させて写真撮影やCCDカメラによる録画を行い、それを画像処理装置によって画質改善し、ひび割れを視覚化させて判別及び計測する。【効果】 構造物の場合、調査員の能力や経験に拘らずひび割れの状況が精細に把握でき、また遠隔よりの検出が可能となり、現地調査期間の短縮と高所作業による危険度を軽減する。さらに、各種プラント等の生産ラインへの影響も最小限に検査することができる。これはまた、様々な素材と形状の製造品のひび割れの検査等にも利用が可能である。

Claim (excerpt)：

中心波長が400〜500nmの間にあり、半値幅が5〜50nm程度で、有効透過波長域が380〜510nm程度の間にあるバンドパスフィルタを介在させて、物体のひび割れの検出や幅の計測を目的とすることを特徴とする光学系の使用による撮影方法。

IPC (3)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/02 ,  G06T 7/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭53-089485
  
• 特開昭52-028380
  
• 特開昭60-057204