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J-GLOBAL ID：200903074409105113

AFセンサーを用いた測光装置

Inventor： 大塚 博司 ,  浜田 正隆 ,  塚本 剛也 ,  湯川 和彦
Applicant, Patent owner： ミノルタカメラ株式会社
Agent (1)： 佐野 静夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992329426
Publication number (International publication number)：1994175186
Application date： Dec. 09, 1992
Publication date： Jun. 24, 1994
Summary：

【要約】【目的】AFセンサーを用いた測光装置について、デフォーカス量の違いに起因する誤った露出制御を回避することができるようにする。【構成】受光量に応じて蓄積された電荷により焦点検出を行うとともに、蓄積された電荷量により被写体の輝度を測定する位相差検出方式のAFセンサーを備えたAF装置102を設ける。マイコンμCで、AFセンサーによって検出されたデフォーカス量が所定値よりも大きい場合、測光を禁止したり、デフォーカス量に応じて測光エリアの位置や大きさを変更したりするように制御する。

Claim (excerpt)：

AFセンサーを成すアレイ状に配された複数の受光素子列における所定の範囲の受光素子から得られた電気信号に基づいて測光を行う測光装置において、前記AFセンサーの出力に基づいて得られたデフォーカス量が所定値よりも大きい場合、前記測光を禁止する禁止手段を設けたことを特徴とする測光装置。

IPC (3)：

G03B 7/099 ,  G02B 7/34 ,  G03B 13/36

FI (2)：

G02B 7/11 C ,  G03B 3/00 A