Pat
J-GLOBAL ID：200903074543988420
半導体テスト装置のオンライン装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
京本 直樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993163713
Publication number (International publication number)：1995022486
Application date： Jul. 02, 1993
Publication date： Jan. 24, 1995
Summary：
【要約】【目的】作業を行うロット及び装置を自動的に選択,指示する事により、人間のチェック工数、及び装置稼働率低下の低減を図る。【構成】端末コンピュータ2より入力された情報を基に、ホストコンピュータ1が仕掛かりロットの優先順位を決定する機能と、次に作業する最適なロット又は装置を選択する機能と、選択した最適ロットを端末コンピュータ1に指示する機能を有する事により、常に最適なロットの作業を行う事が可能となる。
Claim (excerpt)：
複数の半導体テスト装置をホストコンピュータにより制御する半導体テスト装置のオンライン装置において、前記ホストコンピュータに入力された情報に基づき、このホストコンピュータがテスト条件と装置性能とを比較して作業可能装置又は作業可能ロットを抽出する手段と、次に生産計画と実績データとにより進捗状況を判断して優先順位を決定する手段と、次に作業を行う最適なロットを選択する手段と、前記選択する手段で選択された最適ロットを端子コンピュータに指示する手段とを備えることを特徴とする半導体テスト装置のオンライン装置。
IPC (2)：
Return to Previous Page
