Pat

J-GLOBAL ID：200903074574082810

分光光度分析

Inventor： ハモンド,スティーヴン・ヴィクター ,  ウェイクマン,ジョン・スティーヴン ,  ロマンズ,デーヴィッド・グラント
Applicant, Patent owner： ファイザー・インコーポレーテッド
Agent (1)： 湯浅 恭三 (外5名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1995502545
Publication number (International publication number)：1996511868
Application date： Jun. 16, 1994
Publication date： Dec. 10, 1996
Summary：

【要約】近赤外線ビームの反射率測定によって粉末物質の分光光度計分析をする方法及び装置であって、サンプルセル(2)を有しており、このサンプルセル内において粉末(20A)がばね偏倚板(13)と窓(8)との間で所定の密度になるまで圧縮される。分光光度計分析は該粉末(20A)の面積上に赤外線ビームをスキャンすることにより該窓(8)を介して当該粉末(20A)へ行われる。この粉末(20A)の面積はその粉末の密度とビームの浸透深さとを掛けたとき該粉末が市販されるような所定の容量に一致する。

Claim (excerpt)：

粉末形状の材料物質を介する電磁放射線の反射率測定によって該材料物質の分光光度分析をする方法であって、 予め定められた密度まで粉末材料物質を圧縮すること、 その圧縮された材料物質内への前記電磁放射線の浸透深さを決定すること、 該粉末面積全体にわたり、その粉末材料物質の密度を掛けたときに、該材料物質の重量により予め定められた一回の服用量に一致する分析を提供する該圧縮された物質の深さを介して前記電磁放射線によってその圧縮された粉末物質をスキャンすること、 よりなる粉末形状材料物質の分光光度分析方法。

IPC (2)：

G01N 21/35 ,  G01N 21/27

FI (2)：

G01N 21/35 Z ,  G01N 21/27 B