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J-GLOBAL ID：200903074671065343

粒子計数装置

Inventor： 山本 純三 ,  福田 正和 ,  田中 庸介
Applicant, Patent owner： 東亞医用電子株式会社
Agent (1)： 野河 信太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997137137
Publication number (International publication number)：1998332568
Application date： May. 27, 1997
Publication date： Dec. 18, 1998
Summary：

【要約】【課題】 フィルター部の濾過効果の低下を遅らせる、つまりフィルター部の寿命を延ばすことができる粒子計数装置の提供にある。【解決手段】 半透過膜で仕切られた試薬流入側の試薬流出口付近に放出口を備えたフィルター部を、試薬容器と計測部との間に備えた粒子計数装置において、試薬流出口より試薬を加圧し、加圧された試薬を放出口より放出することによって、半透過膜に付着した細菌等の粒子および気泡を除くよう構成されたことを特徴とする粒子計数装置。

Claim (excerpt)：

半透過膜で仕切られた試薬流入側の試薬流出口付近に放出口を備えたフィルター部を、試薬容器と計測部との間に備えた粒子計数装置において、試薬流出口より試薬を加圧し、加圧された試薬を放出口より放出することによって、半透過膜に付着した細菌等の粒子および気泡を除くよう構成されたことを特徴とする粒子計数装置。

IPC (3)：

G01N 15/14 ,  G01N 1/02 ,  G01N 1/10

FI (3)：

G01N 15/14 A ,  G01N 1/02 D ,  G01N 1/10 B