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J-GLOBAL ID:200903074684064974

受配電設備の寿命診断方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 宮田 金雄 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001330384
Publication number (International publication number):2003009316
Application date: Oct. 29, 2001
Publication date: Jan. 10, 2003
Summary:
【要約】【課題】 機器の寿命の判定、または機器の更新時期を予測するための余寿命の算出が、高精度かつ容易に可能な寿命診断方法を提供する。【解決手段】 受配電設備を構成する主回路部分に用いられる固体絶縁材料の表面電気抵抗、または上記主回路部分に設けられ、上記固体絶縁材料と同等材料から成るセンサ部の表面電気抵抗を測定し、予め受配電設備の実使用時間または実使用時間に相当する時間毎に測定された、表面電気抵抗測定環境の相対湿度をパラメータとした表面電気抵抗の湿度依存性基準曲線と、測定された上記表面電気抵抗との比較により受配電設備の寿命を判定、または受配電設備の余寿命を算出する。
Claim (excerpt):
受配電設備を構成する主回路部分に用いられる固体絶縁材料の表面電気抵抗率、または上記主回路部分に設けられ、上記固体絶縁材料と同等材料から成るセンサ部の表面電気抵抗率を測定し、表面電気抵抗率測定環境の相対湿度をパラメータとした表面電気抵抗率のしきい値と比較することにより上記受配電設備の寿命を判定したことを特徴とする受配電設備の寿命診断方法。
IPC (2):
H02B 3/00 ,  H01H 33/00
FI (2):
H02B 3/00 M ,  H01H 33/00 A
F-Term (1):
5G027AA21
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 特開平4-297877
  • 特開平1-277771
  • 沿面絶縁劣化検出装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-020320   Applicant:芝府エンジニアリング株式会社, 株式会社東芝

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