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J-GLOBAL ID：200903074691488500

形状追跡方法および装置

Inventor：
脇谷 潤

About 脇谷 潤


Applicant, Patent owner：
富士通株式会社

About 富士通株式会社


Agent (1)： 古谷 史旺 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996282273
Publication number (International publication number)：1998124676
Application date： Oct. 24, 1996
Publication date： May. 15, 1998
Summary：
【要約】【課題】 一般的な環境において実時間で形状を追跡可能な形状追跡方法および装置を提供することを目的とする。【解決手段】 視覚センサの視野に捉えられた画像において、追跡対象の物体の像を示す形状を追跡する形状追跡方法において、視覚センサからの入力画像の各フレームについて自己相関演算を行うことにより、入力画像における輝度変化点からなる特徴画像を求め、特徴画像と追跡対象の物体を示すテンプレートとの相互相関演算を行い、得られた相関値に基づいて、特徴画像とテンプレートとの相関が最も高い位置を検出し、追跡対象の物体を示す形状の位置とする。
Claim (excerpt)：
視覚センサの視野に捉えられた画像において、追跡対象の物体の像を示す形状を追跡する形状追跡方法において、前記視覚センサからの入力画像の各フレームについて自己相関演算を行うことにより、前記入力画像における輝度変化点からなる特徴画像を求め、前記特徴画像と前記追跡対象の物体を示すテンプレートとの相互相関演算を行い、得られた相関値に基づいて、前記特徴画像と前記テンプレートとの相関が最も高い位置を検出し、追跡対象の物体を示す形状の位置とすることを特徴とする形状追跡方法。
IPC (3)：
G06T 7/00 ,  B25J 19/04 ,  H04N 7/18
FI (3)：
G06F 15/70 460 A ,  B25J 19/04 ,  H04N 7/18 G
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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