Pat

J-GLOBAL ID：200903074692966880

散乱媒質内吸光物質の濃度測定方法および装置

Inventor： 小田 元樹 ,  山下 豊 ,  太田 和義 ,  田村 守 ,  西村 吾郎
Applicant, Patent owner： 浜松ホトニクス株式会社
Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993138736
Publication number (International publication number)：1994343625
Application date： Jun. 10, 1993
Publication date： Dec. 20, 1994
Summary：

【要約】【目的】 簡単な装置構成で簡易にかつ正確に散乱媒質内吸光物質の濃度測定が行える方法および装置を提供する。【構成】 光パルス光源21から出射された光パルスは光ファイバ22を介して生体組織23に入射され、光ファイバ24を介して光サンプリング部25に入力される。光サンプリング部25は遅延装置26からのトリガ信号入力タイミングごとに検出した各光パルスの強度fを検出する。第1の積算部27は検出光強度fと遅延装置26から与えられる遅延時間tとの積t・fをとる。第2の積算部28は光強度fを積算する。平均光路長演算部29は積t・fおよび光強度fの各積算結果を用いて平均光路長を算出する。SO2 値算出部30はこの平均光路長からVHbO2およびVHbの濃度比を求め、SO2 値を算出する。表示部31はSO2 値を表示する。

Claim (excerpt)：

n(n≧2)種類の吸光物質を含む散乱媒質の所定位置からある特定波長の光を入射し、前記光入射位置から一定距離離れた所定位置において前記散乱媒質内を光散乱した光を検出し、検出した光に基づいて前記特定波長の光の前記散乱媒質内における平均光路長を算出し、前記散乱媒質に入射する光の波長を変えてn+1種類の波長の光に対する各平均光路長を求め、これら各平均光路長から2波長光間の各平均光路長差を求め、この平均光路長差は前記吸光物質の2波長光間の吸光度の差に逆比例することに基づいて前記散乱媒質内における各吸光物質の濃度比を求めることを特徴とする散乱媒質内吸光物質の濃度測定方法。

IPC (2)：

A61B 5/14 310 ,  G01N 21/27