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J-GLOBAL ID:200903074731082005

扁平上皮がんに対する放射線治療後における予後の予測方法および予後予測用キット

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 植木 久一 ,  菅河 忠志 ,  二口 治 ,  伊藤 浩彰
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008214992
Publication number (International publication number):2009075092
Application date: Aug. 25, 2008
Publication date: Apr. 09, 2009
Summary:
【課題】本発明は、扁平上皮がんに対する放射線治療後における予後を簡便に予測できる方法と、当該方法で用い得る予後予測用キットを提供することを目的とする。【解決手段】本発明に係る扁平上皮がんに対する放射線治療後における予後の予測方法は、血液試料中におけるアポリポタンパク質C-IIの量を測定する工程を含むことを特徴とする。【選択図】なし
Claim (excerpt):
扁平上皮がんに対する放射線治療後における予後を予測するための方法であって、 血液試料中におけるアポリポタンパク質C-IIの量を測定する工程を含むことを特徴とする方法。
IPC (3):
G01N 33/92 ,  G01N 33/53 ,  G01N 27/62
FI (4):
G01N33/92 Z ,  G01N33/53 W ,  G01N27/62 V ,  G01N27/62 K
F-Term (21):
2G041CA01 ,  2G041DA03 ,  2G041DA04 ,  2G041EA03 ,  2G041FA12 ,  2G041GA06 ,  2G041JA07 ,  2G041LA08 ,  2G045AA34 ,  2G045CA26 ,  2G045DA36 ,  2G045DA62 ,  2G045FB03 ,  4H045BA09 ,  4H045BA21 ,  4H045CA42 ,  4H045EA51 ,  4H045GA15 ,  4H045GA23 ,  4H045GA25 ,  4H045GA31
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)

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