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J-GLOBAL ID：200903074733449933

多次元データの可視化方法及び装置

Inventor： 尾藤 良孝 ,  新谷 洋一 ,  酒田 大樹 ,  松尾 仁司
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 平木 祐輔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001299998
Publication number (International publication number)：2002123530
Application date： Sep. 28, 2001
Publication date： Apr. 26, 2002
Summary：

【要約】【課題】 多次元データの可視化及び分析を自動環境で実行する。【解決手段】 多次元のプロセスデータ100を少なくとも3次元に抽象し、2次元の相関を2Dマップ110によって可視化し、1次元の数量尺度を1Dマップ120によって可視化する。ユーザがマップ上で関心領域(ROI)118を選択すると、多次元データ100は選択されたROIに従ってスライスされ、次元で切り取られた値の部分集合として設定される。1Dマップ120には、このROIに含まれるものが計算され、表示される。逆に、1Dマップ120の上でROIとして部分群128を選択すると、それに対応するプロセスパターンが計算され、2Dマップ110が再描画されて、その部分集合に対応する特定のパターンが示される。

Claim (excerpt)：

プロセスデータを分析するための方法であって、前記プロセスデータを少なくとも3次元に抽象し、前記3次元のうちの少なくとも1つの次元の前記プロセスデータの可視化を可能にする、第1可視化装置及び第2可視化装置を含む複数の可視化装置を提供し、前記3次元のうちの少なくとも2つの次元間の少なくとも1つの相関を前記第1可視化装置で示し、前記3次元のうちの少なくとも1つの次元による数量尺度を前記第2可視化装置で示し、複数の関心領域(ROI)のうちの少なくとも1つの選択であって、前記選択は前記3次元の中から選択された少なくとも1つの次元から得られ、前記第1可視化装置及び前記第2可視化装置のうちの少なくとも一方で示される前記選択を受け取り、前記ROI内に存在する値を備えた、前記プロセスデータの第1部分集合を計算し、前記プロセスデータの前記第1部分集合に基づき、前記第1可視化装置及び前記第2可視化装置を再描画することを備えたプロセスデータ分析方法。

IPC (2)：

G06F 17/30 210 ,  G06F 17/30 360

FI (2)：

G06F 17/30 210 Z ,  G06F 17/30 360 Z

F-Term (6)：

5B075PP03 ,  5B075PP11 ,  5B075PP30 ,  5B075PQ02 ,  5B075PQ14 ,  5B075PQ16