ヘリウム液滴式質量分析法(HDMS)

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：社本一夫 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001313733
Publication number (International publication number)：2002181785
Application date： Oct. 11, 2001
Publication date： Jun. 26, 2002
Summary：

【要約】【課題】本発明は、質量分析のような分子の分析に対する分子のイオン化用の、しかし電荷又はイオン分子反応を最小化した或いはそれを伴なわない方法及び装置を提供する。【解決手段】イオン化部位の媒体としてヘリウム液滴を適当に使用し、プロトンを最初にヘリウム液滴によって捕獲し、蒸発により0.4ケルビンに冷却する質量分析の方法及び装置を提供する。中性分子はプロトン化ヘリウム液滴に捕獲/プロトン化され、当該液滴は温度浴として作用し、形成されたプロトン化分子を急速に冷却する。残存液体ヘリウムを除去し、安定に保持したプロトン化分子を質量分析計によって検出する。装置に(1)ヘリウムクラスター又は液滴源;(2)液滴にプロトンを導入するプロトン源;(3)減圧して低圧の流れを形成するAP源;(4)化合物の分子を低温でプロトン化等する捕獲セル要素;(5)残存ヘリウム除去用の脱溶媒域;及び(6)質量分析計及び検出器を含む。

Claim (excerpt)：

分子をイオン化する方法であって:a)絶対0度より高い温度であって、しかし前記イオン化の結果として又は分子間の衝突の結果として前記分子が断片化する温度より低い温度で前記イオン化中に、前記分子を含むための流体媒体を調製すること(ここで前記流体媒体は、前記断片化温度より低い温度を維持するための温度浴として機能するのに充分な体積を有している);b)前記分子及びイオン化用イオンを前記流体媒体中に導入し、これによって前記分子をその中でイオン化すること(ここで前記断片化温度より低い温度は維持される);c)前記イオン化された分子を断片化することなく、前記流体媒体を取り出すこと;の工程を含む、前記方法。

IPC (4)：

G01N 27/62 , G01N 30/72 , H01J 49/10 , H01J 49/26 ZNA

FI (6)：

G01N 27/62 X , G01N 27/62 L , G01N 27/62 V , G01N 30/72 C , H01J 49/10 , H01J 49/26 ZNA

F-Term (9)：

5C038GG08 , 5C038GG11 , 5C038GH05 , 5C038GH08 , 5C038GH09 , 5C038GH13 , 5C038HH02 , 5C038HH03 , 5C038HH28

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