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J-GLOBAL ID：200903074852842600
電池素子の短絡検査装置及び検査方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高橋 光男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994148709
Publication number (International publication number)：1995333303
Application date： Jun. 07, 1994
Publication date： Dec. 22, 1995
Summary：
【要約】【目的】 構造が簡単で短絡検査の作業能率が高く、しかも検査の信頼性が高い、電池素子の短絡検査装置及び短絡検査方法を提供する。【構成】 電池素子の本発明に係る短絡検査装置10は、電池素子の電極間の静電容量と損失係数とを同時に測定するCD測定装置12と、電池素子の正負極の電極リードF、Gとそれぞれ電気的に接触できるようにされた正極、負極測定端子14、16とを備えている。CD測定装置により電池素子の電極間に交流測定信号を印加して静電容量Cと損失係数Dとを測定する。損失係数が規定値以上の場合には、電極間が短絡していると見なし、検査した電池素子を不良品として排除する。静電容量の測定値が規定した範囲外にある場合には、検査した電池素子を不良品として排除する。静電容量の測定値が規定した範囲内にあり、測定損失係数Dの測定値が規定値以下である時、検査した電池素子を合格品として、次の工程に送る。
Claim (excerpt)：
正負の両電極と、電極同士を相互に隔離するように電極間に介装されたセパレータとからなる電池素子の電極間の短絡を検査する装置であって、正負の両電極とそれぞれ電気的に接触できるようにされた第1及び第2の測定端子と、第1及び第2の測定端子を介して電極間の静電容量及び損失係数を測定する測定装置とを備え、第1及び第2の測定端子間に交流測定信号を印加して電極間の静電容量と損失係数とを求めることにより電池素子の短絡を検査することを特徴とする電池素子の短絡検査装置。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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