半導体レーザーを用いた水分分析装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：志賀正武 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991260859
Publication number (International publication number)：1993099845
Application date： Oct. 08, 1991
Publication date： Apr. 23, 1993
Summary：

【要約】【構成】測定ガスを導入した多重光路ガスセル1および純水分に調整したリファレンス用セル15に、室温で波長1.3〜1.55μm帯で発振するInGaAsP系のDFB半導体レーザ4を用いてレーザ光をそれぞれ透過させ、水分の吸収ピーク強度を室温で1.3〜1.55μm帯に感度を有するGe光検出器M、Rを用いて検出する。二波長差分吸収法を用いて水分を測定する。【効果】ガス中の水分を室温で、高精度に測定できる。装置を小型化でき、簡便かつ迅速に測定できる。

Claim (excerpt)：

室温で波長1.3〜1.55μm帯で発振する波長可変半導体レーザーと、ここから発振されたレーザー光を分岐して測定用ガスセルに導き、しかるのち測定用光検出器に送り込む測定ラインと、上記レーザー光を分岐してリファレンス用セルに導き、しかるのちリファレンス用光検出器に送り込むリファレンスラインと、上記レーザー光を分岐してパワーモニター用光検出器に送り込むパワーモニターラインを具備し、上記各検出器として室温で1.3〜1.55μm帯に感度を有する光検出器を用いたことを特徴とする半導体レーザーを用いた水分分析装置。

IPC (2)：

G01N 21/39 , G01N 21/35

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (20)

特開昭64-073239
特開昭64-073239
特表平3-505782

Show all

Return to Previous Page