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J-GLOBAL ID：200903074877847313

IC不良解析用表示装置

Inventor： 新島 宏信 ,  村川 勉
Applicant, Patent owner： 株式会社アドバンテスト
Agent (1)： 草野 卓 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993184055
Publication number (International publication number)：1995093391
Application date： Jul. 26, 1993
Publication date： Apr. 07, 1995
Summary：

【要約】【目的】 IC内部の配線を流れる信号を観測し、不良個所を探る場合に用いるIC不良解析用表示装置において、解析すべき部位の指定を回路図により容易に行えるようにし、短時間に不良解析を行うことができるIC不良解析用表示装置を提供する。【構成】 回路ネットリストCADデータと、マスクレイアウトCADデータとによりICの製造に用いるネットリストとマスクレイアウトを表示し、マスクレイアウトによってIC内部の配線部分を表示するように構成されるIC不良解析用表示装置において、ネットリストとピン入出力属性情報とによって回路図データを生成すると共に、この回路図データを回路図データ表示部に表示させ、この回路図データ表示部に表示された回路図により、不良解析部位を指定できるように構成したことを特徴とするIC不良解析用表示装置。

Claim (excerpt)：

回路ネットリストCADデータと、マスクレイアウトCADデータとが入力され、これら回路ネットリストとマスクレイアウトを表示部に表示すると共に、ネットリスト対レイアウト照合部により、照合されて対応するネットリストとマスクレイアウトを表示することができるIC不良解析用表示装置において。ネットリスト-回路図生成部を設け、このネットリスト-回路図生成部にピン入出力属性情報と上記ネットリストデータとを与え、このネットリスト-回路図生成部から回路図データを出力させ、この回路図をIC回路図データ表示部に与えて回路図を表示すると共に、回路図対マスクレイアウト照合部により照合した結果により回路図に対応したマスクレイアウト及びネットリストとを各表示部に表示するように構成したことを特徴とするIC不良解析用表示装置。

IPC (4)：

G06F 17/50 ,  G01D 21/00 ,  G01R 31/28 ,  H01L 21/66

FI (2)：

G06F 15/60 360 D ,  G01R 31/28 Z