Pat

J-GLOBAL ID：200903074907798592

ポンプ劣化診断システム

Inventor： 石川 富雄 ,  岡安 潔 ,  福田 一美 ,  永井 勲 ,  秋葉 義雄
Applicant, Patent owner： 川崎製鉄株式会社 ,  東京都
Agent (1)： 青山 葆 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993276753
Publication number (International publication number)：1995159231
Application date： Nov. 05, 1993
Publication date： Jun. 23, 1995
Summary：

【要約】【目的】 ポンプの軸封部、ライナリング部、インペラーリング部、中間軸受部等の摺動振動源のための劣化診断システムを提供する。【構成】 摺動振動源の観測スペクトルパターンを正常時と異常時のスペクトルパターンと比較し、観測スペクトルパターンの類似度が異常時の類似度により近いと判定したときに異常発生と判定する。この判定においては、観測スペクトルパターンと正常時と異常時のそれぞれのスペクトルパターンとの類似度を演算し、あらかじめそれぞれ設定された正常時と異常時の類似度判定基準と比較して、劣化進行を診断する。類似度は、観測スペクトルパターンについて求められた各種指標を基に算出され、あるいは、正常時または異常時のスペクトルパターンとのパターンマッチングにより求められる。

Claim (excerpt)：

診断対象である摺動振動源の振動を電気信号として検出し、デジタル信号として出力する振動信号検出装置と、振動信号検出装置より入力されるデジタル信号をサンプリングして振動スペクトルパターンを算出する周波数スペクトル分析演算器と、周波数スペクトル分析演算器より入力された正常時のスペクトルパターンを記憶する第1記憶器と、周波数スペクトル分析演算器より入力された異常時のスペクトルパターンを記憶する第2記憶器と、第1記憶器に記憶された正常時スペクトルパターンおよび第2記憶器に記憶された異常時スペクトルパターンを、周波数スペクトル分析演算器から入力された観測スペクトルパターンと比較し、観測スペクトルパターンの正常時スペクトルパターンと異常時スペクトルパターンに対する類似から診断対象の劣化進行を診断するパターン比較装置とを具備するポンプ劣化診断システム。

IPC (2)：

G01H 17/00 ,  G01M 19/00