Pat
J-GLOBAL ID：200903074923172318
偏光コヒーレントアンチストークスラマン散乱顕微鏡使用のシステム及び方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：
吉田 研二
, 石田 純
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2003510910
Publication number (International publication number)：2004534232
Application date： Jun. 27, 2002
Publication date： Nov. 11, 2004
Summary：
顕微鏡試料に誘導された非線形コヒーレント場を検出するシステム及び方法が開示される。1実施形態において、上記システムは、第1の偏光電磁場を第1の周波数で生成する第1のソースと、第2の偏光電磁場を、第1の周波数と異なる第2の周波数で生成する第2のソースとを含む。上記システムは、第1の偏光電磁場と第2の偏光電磁場とを、偏光角の差がゼロでないφになるように共線的に合成する光学系をさらに含む。光学系は、合成された電磁場を共通の焦点ボリュームにさらに向ける。システムは、偏光感応検出器をさらに含み、焦点ボリュームにおける第1及び第2の偏光電磁場に応答して生成された非線形コヒーレント場を検出する。
Claim (excerpt)：
顕微鏡試料に生成された非線形コヒーレント場を検出するシステムであって、
第1の周波数の第1の偏光電磁場を生成する第1のソースと、
前記第1の周波数と異なる第2の周波数で第2の偏光電磁場を生成する第2のソースと、
第1の偏光電磁場と第2の偏光電磁場とを、偏光角の差φがゼロでないように共線的に合成し、合成された電磁場を共通の焦点ボリュームに向ける光学系と、
前記焦点ボリュームにおける前記第1及び第2の偏光電磁場に応答して生成された非線形コヒーレント場を検出する偏光感応検出器と、
を含むシステム。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (26)：
2G020AA03
, 2G020BA03
, 2G020BA05
, 2G020CA04
, 2G020CB06
, 2G020CB22
, 2G020CC29
, 2G020CD03
, 2G020CD14
, 2G020CD24
, 2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043CA05
, 2G043EA03
, 2G043FA02
, 2G043GA02
, 2G043GB01
, 2G043HA01
, 2G043HA07
, 2G043HA09
, 2G043JA03
, 2G043KA01
, 2G043KA07
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043MA01
