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J-GLOBAL ID：200903074932677627

イオントラップ質量分析装置

Inventor： 三村 忠男 ,  冨岡 勝
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 高田 幸彦 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998027271
Publication number (International publication number)：1999224645
Application date： Feb. 09, 1998
Publication date： Aug. 17, 1999
Summary：

【要約】【課題】高感度測定が可能なイオントラップ質量分析装置を提供すること。【解決手段】注入口3から導入された試料は分析カラム4を進みながら成分毎に分離される。分離された試料成分はESIプローブ5に送られイオン化される。イオンは真空室30内に導入され、更にイオンイオンガイド8を経てイオントラップ40に送り込まれる。イオントラップ40は導入されたイオンを内部に安定に捕捉し、蓄積する。蓄積されたイオンはリング電極11に印可された高周波の電圧(振幅)を掃引することにより外部に放出され、検出器12で検出される。真空室30に導入されてイオントラップ40の外部を迷走するイオンはイオン遮蔽体16によりトラップされ、したがって検出器12によって検出されることはない。

Claim (excerpt)：

試料をイオン化してイオンを生成する手段と、その生成されたイオンが導入される真空室と、その導入されたイオンをトラップする、前記真空室内に配置されたイオントラップと、そのトラップされたイオンを前記イオントラップ外に放出させる手段と、その放出されたイオンを検出する手段とを含むイオントラップ質量分析装置において、前記真空室に導入されるイオンのうちの、前記イオントラップの外部を介して前記イオン検出手段に向かって迷走するイオンを遮蔽するイオン遮蔽体を備えていることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。

IPC (3)：

H01J 49/34 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/06

FI (3)：

H01J 49/34 ,  G01N 27/62 E ,  H01J 49/06