Pat
J-GLOBAL ID：200903075008765842
プラント劣化診断装置及び方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
,
Agent (1)：
笹岡 茂 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995093155
Publication number (International publication number)：1996263131
Application date： Mar. 27, 1995
Publication date： Oct. 11, 1996
Summary：
【要約】【目的】 アクチュエータの劣化を予測診断し、劣化診断の精度を向上するに好適なプラント劣化診断装置及び方法を提供することにある。【構成】 プラント1を操作するアクチュエータ2、アクチュエータの動作状態を検出するセンサ3及びセンサの情報を用いて前記アクチュエータに指令を発生するプラント制御装置4を有するプラント設備において、アクチュエータの応答時間を計測する応答時間測定機構7と、応答時間を分析して予測寿命を出力する分析機構及び知識ベース10を利用して予測寿命を補正し、劣化診断する推論機構からなる劣化診断処理機構9を具備することを特徴とする。【効果】 アクチュエータの予測寿命の精度を向上させると共に、劣化診断の精度を著しく向上させることができ、プラント設備の稼働率低下を防止することが可能となる。
Claim (excerpt)：
プラントを操作するアクチュエータ、前記アクチュエータの動作状態を検出するセンサ及び前記センサの情報を用いて前記アクチュエータに指令を発生するプラント制御装置を有するプラント設備において、アクチュエータの応答時間を計測する応答時間測定機構と、前記応答時間を分析して予測寿命を出力する分析機構と、知識ベースを利用して前記予測寿命を補正し、劣化診断する推論機構を具備することを特徴とするプラント劣化診断装置。
IPC (2)：
FI (2)：
Return to Previous Page
